Process Control and In-situ Measurement for Photovoltaic Manufacturing Process

プラズマ発光モニタ
プラズマを利用した半导体薄膜プロセスにおいて、エンドポイントの検出またはプラズマのコンディション管理を行うための、発光分析方式のエンドポイントモニタです。
新開発のアルゴリズム“Rupture Intensity”により微弱な信号変化から的確にエンドポイントを検出できます。
微弱な発光変化を捉えるため、感度を大幅に改善。
またノイズ耐性を向上させることにより、24时间稼动する製造ラインの过酷な环境化で高い安定动作を确保します。
製造元:株式会社堀场製作所