| SZ-100 | タイプ名 | 粒子径 | ゼータ电位 | 分子量 | ハイパワーレーザ |
| S2 | 〇 | 〇 | |||
| Z2 | 〇 | 〇 | 〇 | ||
| HS2 | 〇 | 〇 | 〇 | ||
| HZ2 | 〇 | 〇 | 〇 | 〇 |
| 测定原理 | 粒子径： 光子相関法 |
| ゼータ电位： 電気泳動レーザドップラー法 | |
| 分子量： 静的光散乱Debyeプロット | |
| ゲル測定 ： 光子相関法 | |
| 测定范囲 | 粒子径： 0.3 nm ～ 10 μm （直径） |
| ゼータ电位： -500 mV ～ +500 mV （粒子： 2.0 nm～100 μm*1) | |
| 分子量： 1000 ～ 2 x 107 （Debyeプロット）、540 ～ 2 x 107 （惭贬厂式*2） | |
| ゲル測定 ： 0.3nm～10μm（網目サイズ） | |
| ゲル?粒子径测定角度 | 90° および173° （ただし、試料濃度による） |
| 使用可能分散媒 | 水、エタノール、有机溶媒（ただし、セル材质による） |
| サンプルセル | キュベットセル（粒子径?分子量? ゲル ）、電極付きセル（ゼータ电位） |
| 测定时间 | 粒子径測定 ：通常約2分（粒子径測定時、測定開始から結果表示まで） |
| ゼータ电位：通常約2分（粒子径測定時、測定開始から結果表示まで） | |
| ゲル测定：通常约20分（粒子径测定时、测定开始から结果表示まで） | |
| 测定部光学系 | 光源： 半导体励起固体レーザ 532 nm 10 mW、または 100 mW |
| 検出器： 光電子倍増管（PMT） | |
| ホルダ温度温调设定温度 | 0～90℃（プラスチック製セルおよび电极付きセルは70℃まで） |
| レーザクラス | クラス1 |
| データ処理?操作部 |
|
*1: 試料に依存します
*2: Mark-Howink-Sakurada式より算出（試料に依存します）