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Energy

太阳电池

太阳电池はカーボンニュートラル?脱炭酸社会の実現に向けて注目される再生可能エネルギーの一つとして、水素の利用やCCUS(Carbon dioxide Capture, Utilization and Storage)に並び、改めて注目されています。ここでは従来より実用化されているシリコン太阳电池?化合物半导体太阳电池?有機薄膜太阳电池などだけではなく、昨今盛んに研究開発が行われ実用化の早期実現が待ち望まれているペロブスカイト太阳电池の結晶性、元素分布、キャリア寿命などの分析手法を提案します。

ペロブスカイト层の膜厚?光学定数分析

膜厚?光学定数分析は、ペロブスカイト太阳电池材料の光学特性と性能を評価するための重要な手法です。膜厚の均一性や光学定数の正確な測定により、ペロブスカイト太阳电池を初め各種太阳电池の効率や安定性の向上に寄与します。

分光エリプソメータ UVISEL Plus

  • 数苍尘の薄膜を精密分析
  • 多层构造での解析が可能
UVISEL Plus
UVISEL Plus

分光エリプソメーター

ペロブスカイト层の电子励起状态解析

電子励起状態解析は、材料の光電変換効率やキャリア寿命を分析するための重要な手法です。この解析により、電子の移動や再結合のメカニズムを詳細に把握でき、ペロブスカイト太阳电池や各種太阳电池の性能向上に寄与し、より高効率なデバイス設計が可能になります。

蛍光寿命测定装置 DeltaFlex

  • 数十ピコ秒オーダーまで対応
  • 近赤外领域まで拡张可能
DeltaFlex
DeltaFlex

蛍光寿命光度计

ペロブスカイト太阳电池の評価

ペロブスカイト层の深さ方向元素分析

深さ方向の元素分布分析は、材料の内部構造と特性を理解するための重要な手法です。この分析により、層ごとの元素分布や化学組成の変化を詳細に把握でき、ペロブスカイト太阳电池や各種太阳电池の性能向上に寄与します。

マーカス型高周波グロー放電発光表面分析装置 GD-Profiler2

  • 数十μ尘中の深さ方向元素分布を迅速分析
  • 水素から分析可能
GD-Profiler 2?
GD-Profiler 2™

マーカス型高周波グロー放电発光表面分析装置(骋顿厂)

光特性评価

バンド端の计测

化合物半导体の太阳电池では、薄膜の元素の組成比によってバンドギャップが変化します。化合物半导体は、バンドギャップのエネルギーに相当する光を吸収するため、吸収係数の立ち上がり位置からバンドギャップを推定可能です。

不纯物準位の评価

半导体の不纯物準位はドープする不纯物の种类、浓度によって変化します。発光スペクトル测定による発光波长からその不纯物準位を见极め、不纯物の种类、浓度を见积もることができます。

顕微ラマン分光测定装置 LabRAM Odyssey

  • 業界最高レベル*の応力分解能 (*2020年当社調べ)
  • 12インチウェハまでマッピング対応可能
  • 温調ホルダ使用可能 (試料サイズは別途ご相談)

分光エリプソメータ UVISEL Plus

  • ?オーダの膜厚の光学定数评価
    机械的动作を伴わない位相変调方式と温调机能により、振动などの影响を抑え、高い厂狈比で信頼性のある评価が可能です。
  • 85 μmまでの膜厚評価(膜の状態に依存)
    高い波长分解能と独自の光学系により、広いレンジの膜厚评価が可能です。
LabRAM Odyssey
LabRAM Odyssey

顕微ラマン分光测定装置

UVISEL Plus
UVISEL Plus

分光エリプソメーター

キャリア寿命计测

太阳电池において電子正孔対のキャリア寿命は、太阳电池の効率に大きく影響します。発光寿命測定によりそのキャリア寿命を計測できます。

蛍光寿命测定装置 DeltaFlex/DeltaPro

  • 数ピコ秒から数秒までの発光寿命に対応
  • 100 種類を超える光源、4 方向に拡張可能な大型試料室、複数の検出器の搭載
  • 独自の光学系?検出器の採用により高いSN 比を実現
DeltaFlex
DeltaFlex

蛍光寿命光度计

DeltaPro
DeltaPro

蛍光寿命测定装置

结晶性评価

ポリシリコン结晶性评価

薄膜太阳电池の製造ラインでは、μC-Siの結晶化率のモニタが必要不可欠になっています。

ラマン顕微镜 XploRAシリーズ

  • 明?暗视野、偏光、微分干渉などの観察机能
  • 物质の化学组成の同定、分子构造の解析に最适
  • 高速?多彩なオプションに対応
XploRA? PLUS
XploRA™ PLUS

ラマン顕微镜

シリコン中不纯物の高感度定量分析

微量不純物の定量評価 JIS H 0615準拠

シリコン中不純物分析は、JIS H 0615で定められ高い波長分解能のフォトルミネッセンス装置が必要です。

Si中の不純物濃度の分析。JIS H 0615にて定められた手法

Si中の不純物濃度の分析。JIS H 0615にて定められた手法

CIGS太阳电池の解析

深さ方向の元素分布分析

1耻尘/尘颈苍程度のスパッタリングレートで分析できるため、オージェ分析や齿笔厂分析では不可能な迅速分析ができます。またマトリクス影响も小さいため、厂滨惭厂分析では难しい定量分析も可能です。検量线を用いれば、简単に组成分析が可能です。

マーカス型高周波グロー放電発光表面分析装置 GD-Profiler2

  • 迅速かつ简単に深さ方向の元素分布を评価
  • 贬~鲍まで検出可能
  • 化合物半导体薄膜の研究开発?生产技术?品质管理の分野で幅広く活用
GD-Profiler 2?
GD-Profiler 2™

マーカス型高周波グロー放电発光表面分析装置(骋顿厂)

有機薄膜太阳电池の薄膜評価

有機薄膜の膜厚?膜质評価

异方性材料を含む、多层の有机薄膜の膜厚や屈折率を评価でき、配向性の评価に用いることもできます。

有机薄膜の吸光度の波长依存性评価

太阳电池の有機薄膜は吸光度の波長依存性が高く、正確に把握する必要があり、波長毎の消衰係数を容易に得ることができます。

分光エリプソメータ UVISEL Plus

  • 非破壊?非接触で光学定数と膜厚を求めることで、顿尝颁膜の分类评価に活用することが可能です

自动薄膜计测装置 Auto SE

  • 非破壊?非接触による测定
  • ミューラー行列全16要素测定による薄膜特性评価
  • カラービジョンシステムによる厳密な测定位置の确认
UVISEL Plus
UVISEL Plus

分光エリプソメーター

Auto SE
Auto SE

自动薄膜计测装置

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