お问い合わせ
拠点情报
ウェハの膜厚、光学特性、組成、結晶化度、欠陥といった重要なパラメーターを正確に測定し、自動化技術との融合で省人化、半导体製造プロセスの効率化と歩留まり向上に貢献します。
<出展ソリューション ダウンロードページ> ?Fluid Control ?Chamber Health Monitoring ?Facility / Sub-fab ?Chemical Concentration Monitor ?Mask Inspection ?Advanced Semi Materials
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