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椭圆偏振光谱仪是一种基于光在平面上反射时偏振态发生变化的表面光学表征技术。它的应用多种多样,比如力学中的光弹性测量,晶体光学和化学中的糖度测定,以及磁性中的法拉第效应和电中的克尔效应测量。它是Bernard Drevillon和Ramdane Benferhat在巴黎综合理工学院的实验室研发的,后来他们加入了Jobin Yvon。